凯发·k8国际(中国)-登录首页

凯发k8国际首页登录科技有限公司
CHIP PROBE
晶圆测试
对晶圆上的每颗芯片进行电性功能测试,保障芯片符合设计的各项参数指标。公司可提供专业的系统化测试服务,如测试程式开发、探针卡设计及维修等。
凯发k8国际首页登录
集成电路测试机类型
pr_2_7.png
凯发k8国际首页登录科技有限公司
Copyright © 2024 www.wenwanlou.com All Rights Reserved. 凯发k8国际首页登录科技(苏州)有限公司 版权所有 苏ICP备14022177号-1 网站地图
网站建设 : 翰臣科技
友情链接: